磁気光学スペクトル
測定装置
磁性薄膜の磁気異方性（トルク曲線）を測定します．
装置仕様
研究室の自作
極Kerr回転角およびKerr楕円率の測定（偏光面変調法）
磁界：16 kOe
測定波長範囲：260 nm～1500 nm
測定感度：0.002 deg
測定温度：室温のみ
磁性薄膜の磁気異方性（トルク曲線）を測定します．
研究室の自作
極Kerr回転角およびKerr楕円率の測定（偏光面変調法）
磁界：16 kOe
測定波長範囲：260 nm～1500 nm
測定感度：0.002 deg
測定温度：室温のみ